제목광학오류주입 취약성 시험방법론, 2011. 05.11 ~ 2011. 12. 10, 한국인터넷진흥원2020-04-01 19:38:30작성자김 호원 목록 댓글 [0] 더보기이전스마트기기의 APT 공격에 대한 취약성 분석 연구, 2012.05.15~2013.01.31, 한국전자통신연구원김 호원 2020-04-01-광학오류주입 취약성 시험방법론, 2011. 05.11 ~ 2011. 12. 10, 한국인터넷진흥원김 호원 2020-04-01다음보안 센서네트워크 테스트베드 구축, 2009.7.1~2010.1.31김 호원 2020-04-01 Powered by MangBoard